【冠远科技】DiaInspect-OSM粒子分析仪适用于微米到锯片粒度的各种粒度和金刚石。

粒子分析仪特点：

1、有参数直方图和参数组合散点图；

2、所有参数组合示意图；

3、2D和3D虚拟排序；

4、多聚焦功能的深聚焦图像；

5、孔隙度扫描模块；

6、曲面和3D三维扫描模式；

7、报告生成一键生成；

8、数据传输EXCEL结果表；

9、真实粒子、图像和被测参数交互连接；

工作原理：

DiaInspect-OSM粒子分析仪把颗粒分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时，建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像，因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。